離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TESTING ）
在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
適用規(guī)格 ： JPCA- - ET01- - 2001
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