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ECM-100離子遷移測試裝置

離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000  小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。( ION MIGRATION TESTING )

在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。

適用規(guī)格 : JPCA- - ET01- - 2001


產(chǎn)品優(yōu)勢  

 

簡單/便利

△采用高端驅(qū)動計測,測試時焊接工序大幅減少。

△軟件設(shè)計簡單明了,能夠非常直觀得操作。

△配有過程中的記錄、報告相關(guān)的報表功能。

△測試中,設(shè)備可以單獨運行,電腦電源切斷也不受影響。

 

高性能&高機能

△因為每個通道都單獨配有電壓/計測電路,可以做到16ms的計測間隔。

→遷移現(xiàn)象的檢測能力更高,對產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準(zhǔn)。

△一臺電腦最大可以增設(shè)400通道。

△每個通道可以設(shè)定不同的電壓。

 

可靠性更高&操作更簡潔

△具有自身診斷機能,把異常計測防范于未然。

△配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。

△每個單元獨立,其中一個單元損壞,可以單獨拆卸維修,而不影響其他通道使用。

△標(biāo)準(zhǔn)配置也可以接入1~300V的電壓范圍。

 

用途

PCB板、焊接、樹脂、導(dǎo)電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。

△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置,可以在多領(lǐng)域利用。

 

實例

△測試難度大的高阻值也能除去干擾,清晰得進(jìn)行測試。

16msec的高速抽樣處理,不會漏掉任何一個數(shù)據(jù)。

△電容器等絕緣電阻的試驗也非常合適。


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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:離子遷移測試、CAF測試、絕緣電阻值檢測、離子遷移檢測設(shè)備、CAF設(shè)備、CAF試驗、CAF測試方法、Conductive Anode Filaments

1664423240 122648195 1808262573

13570829212 13823559120 13316818270

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